Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, wires, cable-in-conduit conductor, mechanical properties, strain effects, X-ray diffraction, neutron diffraction, review, measurement technique, critical caracteristics, critical current, upper critical fields, critical temperature, bending process, angular dependence, temperature dependence, stress effects
Flukiger R., Seeber B., Buta F., Muzzi L., Michiel M.D., Corato V., Corte A.D., Mondonico G., De Marzi G., Spina T., Daniels J., Senatore C.*3.
Specht E.D., Yao H., Jia Q.X., MacManus-Driscoll J.L., Maiorov B., Li Q., Solovyov V.F., Haugan T.J., Si W.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films thick, strain effects, defects, pinning, synchrotron, X-ray diffraction, nanoscaled effects, nanodoping, nanorods, nanoparticles, PLD process, substrate SrTiO3, substrate LaAlO3, TFA route, buffer layers, critical caracteristics, critical current density, mechanical properties, strain effects, aspect ratios
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.